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燈具漏電起痕的目的

發(fā)表時(shí)間:2023-12-04 14:28:02

燈具漏電起痕檢測(cè)

耐漏電起痕目的是檢驗(yàn)絕緣材料在規(guī)定的條件下是否能形成漏電痕跡，從而能在短期內(nèi)區(qū)別固體絕緣材料漏電起痕的能力，保證電器產(chǎn)品在特定環(huán)境條件的使用安全。燈具漏電起痕檢測(cè)主要是考核燈具用絕緣材料制成的部件的耐起痕性能。

漏電起痕檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 4207-2012、IEC60112:2009 《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》

燈具產(chǎn)品漏電起痕檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

IEC 62031:2018、GB 24819-2009、EN62031:2008+A1:2013+A2:2015 《普通照明用 LED 模塊安全要求》

IEC61347-1:2015+A1:2017、GB19510.1-2009、EN61347-1:2015、AS/NZS61347.1:2016 《燈的控制裝置第 1 部分:總則和安全要求》

GB 19510.12-2005、IEC 61347-2-11:2001+A1:2017、EN 61347-2-11:2002+A1:2019、AS/NZS 61347.2.11:2003(R2016) 《燈的控制裝置第 2-11 部分:與燈具聯(lián)用的雜類電子線路的特殊要求》

IEC 61347-2-13:2014+A1:2016、GB 19510.14-2009、EN 61347-2-13:2014+A1:2017、AS/NZS IEC 61347.2.13:2013 《燈的控制裝置第 2-13 部分:LED 模塊用直流或交流電子控制裝置》

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